Каталог ГОСТ
Актуальность базы: 01.01.2024, объем: 49,841 документа(ов)
Для отображения списка документов выберите категорию из классификатора каталога ГОСТов.
Чтобы отобразить подкатегории классификатора ГОСТ, кликните по иконке со знаком плюс
и дождитесь подгрузки подкатегорий в нижней части экрана.
Если наименование ГОСТа заранее известно, можете воспользоваться формой поиска ниже.
Полный перечень ГОСТ в базе (алфавитный порядок)
| Страницы: |
1 | 2 | показано 15 из 21 |
| № |
Номер |
Название |
Дата введения |
Статус |
| 16 |
ГОСТ 24613.17-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов |
01.07.1978 |
действующий |
| | Англ. название: Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output differential resistance of analogue signal commutators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения выходного дифференциального сопротивления Нормативные ссылки: ГОСТ 24613.0-81 |
| 17 |
ГОСТ 27780-88 |
Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров |
01.01.1990 |
действующий |
| | Англ. название: Integrated circurts. Multiplexers and switches. Methods for measurement of electric parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на микросхемы класса коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров микросхем Нормативные ссылки: IEC 60748-1(1984)ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 19480-74;ГОСТ 19799-74;ГОСТ 22261-82 |
| 18 |
ГОСТ 30350-96 |
Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров |
01.07.1998 |
действующий |
| | Англ. название: Analog integrated circuits. General requirements to apparatus and conditions for measurement of electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает общие требования к условиям измерения электрических параметров, а также требования безопасности к измерительной аппаратуре Нормативные ссылки: ГОСТ 19799-74 в части общих требований к аппаратуре |
| 19 |
ГОСТ Р 50044-92 |
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции |
01.07.1993 |
заменён |
| | Англ. название: Integrated microcircuits and semiconductor device service mounted technology. Requirements to packages Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы (ИС) и полупроводниковые приборы (ПП), предназначенные для использования в технологии поверхностного монтажа, и устанавливает требования к их перспективным конструкциям и выбору унифицированных размеров. Стандарт является обязательным документом при разработке изделий для поверхностного монтажа, обеспечивающих выполнение требований автоматизированной сборки аппаратуры Нормативные ссылки: ГОСТ Р 50044-2009IEC 60191-6(1990)ГОСТ 17467-88;ГОСТ 18472-88;ГОСТ 25347-82 |
| 20 |
ГОСТ Р 54844-2011 |
Микросхемы интегральные. Основные размеры |
01.09.2013 |
действующий |
| | Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы, микросборки, многокристальные модули в корпусах и устанавливает их габаритные, установочные и присоединительные размеры. Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации микросхем в соответствии с действующим законодательством Нормативные ссылки: ГОСТ Р 50044-2009;ГОСТ 17021-88 |
| 21 |
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 |
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем |
01.07.2002 |
действующий |
| | Англ. название: Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits Область применения: Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов Нормативные ссылки: IEC 60748-11-1(1992) |
| Страницы: |
1 | 2 | показано 15 из 21 |
