от 20 декабря 1988 г. N 4327
Measurement of surface roughness parameters.
Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий, относящихся к измерению параметров и характеристик шероховатости поверхности.
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу действия стандартизации или использующих результаты этой деятельности.
1. Стандартизованные термины с определениями приведены в табл. 1.
Термин | Определение |
ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ПРОФИЛЯ |
1. Преобразование профиля | Действие или операция, преднамеренно или непреднамеренно изменяющие информацию о профиле на любой стадии измерения. Примечание. Например, при огибании профиля щупом, фильтровании, записи и т.д. |
E. Profile transformation |
F. Transformation du profil |
2. Преобразованный профиль | Профиль, получаемый в результате его преобразования |
E. Transformed profile |
F. Profil  |
3. Преднамеренное преобразование профиля | Преобразование профиля, проводимое для измерения в соответствии с установленными требованиями. Примечание. Например, подавление низкочастотных гармоник в спектре профиля путем фильтрования для выделения коротковолновой части профиля, которая при измерении рассматривается как шероховатость |
E. Intentional profile transformation |
F. Transformation volontaire du profil |
4. Непреднамеренное преобразование профиля | Преобразование профиля, возникающее из-за несовершенства измерительной аппаратуры или отдельных ее частей и обычно проявляющееся в виде искажений информации о профиле. Примечание. Например, искажение информации о профиле при огибании его щупом с конечным радиусом вершины |
E. Unintentional profile transformation |
F. Transformation involontaire du profil |
| Преобразованный профиль, представляющий собой геометрическое место положений центра вершины щупа при огибании им реального профиля. Примечания: 1. Для контактного щупа за центр его вершины принимают любую точку рабочей вершины. 2. Для бесконтактного оптического щупа за центр его вершины принимается центр сферы, у которой диаметр равен диаметру сфокусированного пятна на поверхности. |
E. Traced profile |
F. Profil  |
6. Модифицированный профиль | Преднамеренно преобразованный профиль, получаемый в результате воздействия фильтрующей системы, применяемой для выделения той части спектра реального профиля, которая должна быть учтена при измерении параметров шероховатости поверхности |
E. Modified profile |
F. Profil  |
| Профиль, полученный в результате измерения |
E. Measured profile |
F. Profil  |
8. Шаг дискретизации профиля по длине  | Расстояние между соседними дискретными ординатами профиля при измерении параметров поверхности цифровыми методами (см. черт. 1) |
E. Profile sampling interval |
F. Pas de  du profil |
Черт. 1 |
9. Шаг квантования профиля по уровню  | Расстояние между соседними отсчетами при измерении значения каждой ординаты профиля цифровыми методами (черт. 1). Примечание. Значение ординаты профиля округляется при дискретном измерении целого числа n шагов квантования  ,  , где  - значение ординаты профиля, полученное при дискретном измерении;  - шаг квантования профиля по уровню; ent - функция (оператор) выделения целой части числа; y - истинное значение ординаты профиля; n - целое число шагов квантования в данной ординате профиля. |
E. Profile quantization step |
F. Pas de quantification du profil |
| Алгоритм или процедура, которые предполагают исходное, теоретически точное определение параметров или характеристик поверхности (см. черт. 2) |
E. Ideal operator |
F.  ideal |
|
| Алгоритм или процедура, принятые для практического определения параметров или характеристик поверхности с приемлемыми затратами (черт. 2) |
E. Optimum operator |
F.  optimal |
| Практически реализованный оптимальный оператор. Примечание. Реальный оператор отличается от оптимального оператора погрешностью изготовления прибора или изменением характеристик в течение времени (черт. 2) |
E. Real operator |
F.  |
13. Методическая погрешность  | Разность между значением параметра поверхности, определенного в соответствии с оптимальным оператором и истинным значением этого же параметра, определенным в соответствии с идеальным оператором (черт. 2) |
E. Method error |
F. Erreur due  la  |
14. Методическое расхождение  | Различия, возникающие в результате применения разных оптимальных операторов для получения одного и того же значения данного параметра (черт. 2) |
E. Method divergence |
F. Divergence entre  |
15. Погрешность прибора  | Разность между значением параметра поверхности, определенным реальным оператором и значением этого же параметра, определенным оптимальным оператором (черт. 2) |
E. Instrument error |
F. Erreur de l'instrument |
16. Полная погрешность прибора T | Разность между значением параметра поверхности, определенным в соответствии с реальным оператором, и истинным значением этого же параметра, определенным в соответствии с идеальным оператором. Примечание. Такая погрешность включает методическую погрешность и погрешность прибора (черт. 2) |
E. Total instrument error |
F. Erreur total d'instrument |
17. Основная погрешность профилометра | Полная погрешность профилометра, определенная при нормальных условиях, включающих стандартное входное воздействие на измерительный преобразователь прибора |
E. Basic error of a profile meter reading |
F. Erreur de base des indications du  |
СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЯ |
18. Профильный метод измерения шероховатости поверхности | Метод оценки шероховатости поверхности по параметрам ее преобразованных профилей |
E. Profile method of measurement of the surface roughness |
F.  du profil pour le mesurage de la  des surfaces |
19. Аппаратура для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом | Приборы, позволяющие определить параметры шероховатости поверхности по ее преобразованным профилям |
E. Instrument for the measurement of surface roughness by the profile method |
F. Instrument de  de la  des surfaces par la  du profil |
20. Контактный прибор последовательного преобразования профиля | Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с последовательным преобразованием информации о профиле при механическом ощупывании измеряемой поверхности щупом |
E. Contact instrument of consecutive profile transformation |
F. Instrument avec contact,  transformation  du profil |
21. Бесконтактный прибор последовательного преобразования профиля | Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с последовательным преобразованием информации о профиле без механического взаимодействия с измеряемой поверхностью |
E. Contactless instrument of consecutive profile transformation |
F. Instrument sans contact,  transformation  du profil |
22. Ощупывающая система прибора | Узел прибора последовательного преобразования профиля, предназначенный для первичного преобразования информации об измеряемой поверхности, состоящей из датчика и системы его перемещения относительно измеряемой поверхности |
E. Traversing system of an instrument |
F.  de palpage d'un instrument |
23. Ощупывающая система прибора с зависимой опорой | Ощупывающая система прибора, в которой датчик опирается на измеряемую поверхность так, что эта поверхность, действуя на опору датчика, оказывает влияние на траекторию его перемещения относительно поверхности |
E. Traversing system of an instrument with skid-dependent datum |
F.  de palpage avec patin d'un instrument |
24. Ощупывающая система прибора с независимой опорой | Ощупывающая система прибора, в которой датчик не опирается на измеряемую поверхность и перемещается независимо, сохраняя ориентацию постоянной, что достигается путем перемещения датчика по внешней базе, так что измеряемая поверхность не действует на датчик и не оказывает влияния на траекторию его перемещения относительно поверхности |
E. Traversing system of an instrument with the external reference datum |
F.  de palpage avec reference independante d'un instrument |
25. Контактный прибор одновременного преобразования профиля | Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с одновременным преобразованием информации о профиле при механическом взаимодействии с измеряемой поверхностью |
E. Contact instrument of instantaneous profile transformation |
F. Instrument avec contact,  transformation  du profil |
26. Бесконтактный прибор одновременного преобразования профиля | Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с одновременным преобразованием информации о профиле без механического взаимодействия с измеряемой поверхностью |
E. Contactless instrument of instantaneous profile transformation |
F. Instrument sans contact,  transformation  du profil |
| Прибор для измерения параметров шероховатости, показывающий значения этих параметров или обеспечивающий их регистрацию |
E. Profile meter |
F.  |
28. Профилометр с постоянной длиной трассы ощупывания при измерении | Профилометр, измеряющий параметр шероховатости поверхности на отрезке длины, начало и конец которого зафиксированы ограничителями. Примечание. Профилометры этого типа обычно показывают и удерживают значение измеряемого параметра, полученное в конце указанного отрезка длины. |
E. Profile meter with predetermined traversing length |
F.  a longueur d'exploration constante |
| Прибор для регистрации и измерения координат профиля поверхности в любой форме |
E. Profile recording instrument |
F. Enregistreur |
ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ |
30. Вертикальное увеличение прибора  | Масштаб преобразования координат профиля в направлении перемещения щупа, перпендикулярном к поверхности |
E. Vertical magnification of a profile recording instrument |
F. Grossissement vertical d'un  |
31. Горизонтальное увеличение прибора  | Масштаб преобразования координат профиля в направлении перемещения щупа вдоль поверхности. Примечание. Под масштабом преобразования понимают отношение регистрируемой величины к перемещению щупа в соответствующем направлении. Применительно к профилограмме - отношение движения пера или носителя к перемещению щупа в соответствующем направлении. |
E. Horizontal magnification of a profile recording instrument |
F. Grossissement horizontal d'un  |
32. Относительная погрешность вертикального увеличения прибора  | Разность между действительным и номинальным значениями вертикального увеличения прибора, отнесенная к номинальному значению и выраженная в процентах |
E. Relative error of vertical magnification of an instrument |
F. Erreur relative du grossissement vertical d'un  |
33. Относительная погрешность горизонтального увеличения прибора  | Разность между действительным и номинальным значениями горизонтального увеличения прибора, отнесенная к номинальному значению и выраженная в процентах |
E. Relative error of horizontal magnification of an instrument |
F. Erreur relative du grossissement horizontal d'un  |
34. Статическое измерительное усилие | Усилие воздействия щупа вдоль его оси на контролируемую поверхность, без учета динамических составляющих, возникающих в процессе ощупывания |
E. Static measuring force |
F. Effort statique de mesurage |
35. Постоянная изменения измерительного усилия | Изменение на единицу перемещения статического измерительного усилия, действующего на щуп вдоль оси |
E. Rate of change of the static measuring force |
F. Taux de variation de l'effort statique de mesure |
36. Длина трассы ощупывания | Полная длина участка поверхности, в пределах которого расположен профиль измеряемой поверхности, ощупанный прибором при измерении (см. черт. 3) |
E. Traversing length |
F. Longueur d'exploration |
A - длина участка предварительного хода датчика;  - длина участка измерения; B - длина участка завершающего хода датчика Черт. 3 |
37. Длина участка измерения | Часть длины трассы ощупывания, в пределах которой находится профиль, параметры которого подлежат измерению. Примечание. Длина участка измерения равна длине оценки  . |
E. Measuring length |
F. Longueur de mesure |
| Длина волны  , численно равная базовой длине l и условно принимаемая в качестве верхней границы пропускания профилометра, для которой установлен определенный коэффициент пропускания. Примечания: 1. Для аналоговых электрических фильтров он равен 75%. 2. Указанная верхняя граница условно отделяет номинально пропускаемые от номинально подавляемых компонентов спектра профиля. |
E. Cut-off |
F. Longueur d'onde de coupure |
2. Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.
Применение терминов - синонимов стандартизованного термина не допускается.
2.1. Приведенные определения можно при необходимости изменять, вводя в них производные признаки, раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, входящие в объем определяемого понятия. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в данном стандарте.
3. Алфавитные указатели содержащихся в стандарте терминов на русском языке и их иноязычных эквивалентов приведены в табл. 2 - 5.