ОКСТУ 1709
Дата введения
1 января 1981 года
1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством цветной металлургии СССР
РАЗРАБОТЧИКИ
А.М. Рытиков, М.Б. Таубкин, А.А. Немодрук, М.П. Бурмистров, И.А. Воробьева
2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 26.12.79 N 5045
3. ВЗАМЕН ГОСТ 9716.2-75
4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ
5. Ограничение срока действия снято по протоколу N 5-94 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 11-12-94)
6. ПЕРЕИЗДАНИЕ (октябрь 1998 г.) с Изменением N 1, утвержденным в июле 1990 г. (ИУС 11-90)
Настоящий стандарт устанавливает метод спектрального анализа по металлическим стандартным образцам (СО) с фотоэлектрической регистрацией спектра и распространяется на латуни марок ЛС59-1, Л63, ЛО70-1, Л96, Л68, Л60, Л70, Л80, Л90, ЛС 64-2, ЛАМш 77-2-0,05, ЛАЖ 60-1-1, ЛАН 59-3-2 по ГОСТ 15527.
Метод основан на возбуждении спектра дуговым разрядом переменного тока с последующей регистрацией его оптическим квантометром. Метод позволяет определять в латунях железо, свинец, никель, алюминий, олово, кремний, мышьяк, марганец, висмут, сурьму с интервалом массовых долей, указанных в табл. 1.
Интервал определяемых массовых долей элементов может быть расширен как в меньшую, так и в большую сторону за счет применения СОП и в зависимости от применяемой аппаратуры и методик анализа.
Сходимость и воспроизводимость результатов анализа характеризуется величинами допускаемых расхождений, приведенными в табл. 2, для доверительной вероятности P = 0,95.
Примечания:
1. При проверке установленных нормативов допускаемых расхождений двух результатов параллельных определений за C = (C1 + C2)/2 принимают среднее арифметическое первого и второго результатов параллельных определений данной примеси в одной и той же пробе.
2. При проверке выполнения установленных нормативов допускаемых расхождений двух результатов анализа за C = (C1 + C2)/2 принимают среднее арифметическое двух результатов анализа одной и той же пробы, полученных в разное время.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.1. Общие требования к методу анализа - по ГОСТ 25086.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
Фотоэлектрическая установка (квантометр) типа ДФС-36 или МФС-8.
Генератор типа УГЭ-4 или ИВС-28.
Для регистрации излучения с помощью квантометра ДФС-36 линии мышьяка (234,98 нм) и "внутреннего стандарта" (фон 228,3 нм) применяют фотоумножители типа ФЭУ-5, которые устанавливают без зеркал. Для линий остальных элементов и других "внутренних стандартов" используют фотоумножители типа ФЭУ-4 и фотоэлементы Ф-1. Для регистрации излучения с помощью квантометра МФС-8 аналитических линий и "внутренних стандартов" (см. табл. 3 и 3а) применяют фотоумножители типа ФЭУ-39А.
Электроды из меди марки М1 или из угля марки С3 в виде прутков диаметром 6 - 7 мм, заточенные на полусферу или усеченный конус с площадкой диаметром 1,5 - 1,7 мм.
Приспособление для заточки угольных или медных электродов, например, станок модели КП-35.
Токарный станок для заточки СО и анализируемых проб на плоскость типа ТВ-16.
Стандартные образцы, изготовленные по ГОСТ 8.315.
Допускается использование других средств измерений с метрологическими характеристиками и оборудования с техническими характеристиками не хуже, а также реактивов по качеству не ниже вышеуказанных.
Средства измерения должны быть аттестованы в соответствии с ГОСТ 8.326.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
3.1. Подготовка проб и СО к анализу должна быть однотипной для каждой серии измерений. Масса пробы и СО не должны отличаться более чем в два раза.
Подготовку образца (или СО) проводят зачисткой одной из его граней на плоскость напильником или металлорежущим инструментом (станком) без охлаждающей жидкости и смазки. При фотографировании каждого спектра зачищенная поверхность должна представлять собой плоскую площадку диаметром не менее 10 мм без раковин, царапин, трещин и шлаковых включений. Перед фотографированием спектров для снятия поверхностных загрязнений анализируемые образцы и СО протирают этиловым спиртом.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
4.1. Пробу или СО зажимают в нижнем зажиме штатива и подводят под угольный или медный электрод таким образом, чтобы расстояние от обыскриваемого участка до края образца было не меньше пятна обыскривания (2 - 5 мм).
Между концами электродов, раздвинутыми на (1,50 +/- 0,02) мм, зажигают дугу переменного тока силой 3 - 8 А, питаемую с помощью стандартного генератора УГЭ-4, к квантометру ДФС-36 от сети (220 +/- 5) В или с помощью стандартного генератора ИВС-28 к квантометру МФС-8 от сети (220 +/- 5) В.
При определении всех элементов во всех марках латуней (см. табл. 1) с помощью квантометра МФС-8 или ДФС-36 используют дуговой режим возбуждения спектра.
Метод управления фазовый с фазой поджига 90°. Время предварительного обжига составляет 10 - 15 с, время экспозиции 15 - 40 с. Ширина входной щели квантометра ДФС-36-0,02-0,07 мм. Ширина раскрытой щели полихроматора МФС-8 составляет 0,02 мм. Освещение входной щели квантометров ДФС-36 и МФС-8 производится с помощью растрового конденсора.
От каждого СО и пробы получают по два показания регистрирующего устройства.
Длины волн аналитических линий и линий "внутренних стандартов" приведены в табл. 3.
Допускается применение других аналитических линий, линий "внутренних стандартов", источников возбуждения спектров при условии получения метрологических характеристик не хуже установленных настоящим стандартом.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
Градуировочные графики строят в координатах n - lg C и (или) n - C.
Основным методом, рекомендуемым для выполнения анализа, является метод "трех эталонов". Допускается применение других методов построения графика, например, метода твердого градуировочного графика, метода контрольного эталона и др.
За окончательный результат анализа принимают среднее арифметическое результатов двух параллельных определений, соответствующих двум отсчетам регистрирующего устройства.
Допускаемые расхождения двух параллельных определений и двух результатов анализа не должны превышать величин, указанных в табл. 2 (при доверительной вероятности P = 0,95).
Контроль точности результатов анализа проводят по ГОСТ 25086 с использованием государственных, отраслевых, стандартных образцов или стандартных образцов предприятия.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
Вернуться в "Каталог нормативных документов"
Источник информации: https://internet-law.ru/documents/prod/gost_gosudarstvennyj-standart/49/gost_54507.html
На правах рекламы:
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||