"Изменение N 1 МИ 782-85 "Методические указания. Государственная система обеспечения единства измерений. Микрометры с ценой деления 0,01 мм. Методика поверки"
(утв. НПО "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" 12.02.1986)

Разработано ВНИИизмерения Министерства станкостроительной и инструментальной промышленности.

Руководитель темы: М.Б. Шабалина.

Подготовлено к утверждению "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева".

Начальник сектора М.Н. Селиванов.

Исполнители И.Г. Соур, И.А. Евреинов.

Утверждено НПО "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" 12.02.1986 г.

Пункт 1.1 таблица 1:

пункт 4.3.9.2 - исключить;

дополнить пунктом 4.3.9а:

пункт 4.3.7. Графа "Наименование операции" - исключить обозначение "МЗ".

Пункт 4.3.8. 1-ый абзац. Последнее предложение изложить в редакции: "Получив наименьшую сумму полос на обеих измерительных поверхностях при перемещении пластины при незакрепленном стопоре, зажимают стопор и добиваются при перемещении пластины также наименьшей суммы полос". Второй абзац изложить в редакции: "Сумма полос не должна превышать допуска параллельности, установленного ГОСТ 6507-78, более чем на три полосы".

Пункт 4.3.9.2 исключить.

Методические указания дополнить пунктом 4.3.9а:

"4.3.9а. Отклонение от параллельности плоских измерительных поверхностей и погрешность микрометров типа МЗ определяют по мерам с цилиндрическими измерительными поверхностями (см. справочное Приложение 5). Значения диаметров мер указаны в табл. 3.

Каждую меру устанавливают на расстоянии 2 - 3 мм от края измерительной поверхности пятки в 4-х положениях, как показано на черт. 8.

Для микрометров со срезанной пяткой меры устанавливают на расстоянии 2 - 3 мм от края измерительной поверхности пятки в двух положениях, как показано на черт. 9.

Отклонение от параллельности плоских измерительных поверхностей микрометра для каждого размера меры определяют как наибольшую разность показаний микрометра при различных (черт. 8 и 9) положениях меры одного размера.

Погрешность микрометра определяют как наибольшую разность между показаниями микрометра, полученными при каждом отсчете, и действительными размерами мер, указанными в свидетельстве о метрологической аттестации.

Отклонение от параллельности плоских измерительных поверхностей и погрешность микрометров типа МЗ не должна превышать значений, установленных в ГОСТ 6507-78".