"Изменение N 1 ГОСТ 23349-78 "Контроль неразрушающий. Дефектоскопы капиллярные. Общие технические требования и методы испытаний"
(введено Постановлением Госстандарта СССР от 30.01.1981 N 402)

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 30.01.81 N 402 срок введения установлен

Пункт 1.1 изложить в новой редакции:

"1.1. Дефектоскопы должны изготовляться в соответствии с требованиями настоящего стандарта и ГОСТ 12997-76 по рабочим чертежам, утвержденным в установленном порядке.

Примечание. Допускается для дефектоскопов, в состав которых входят неспециализированные источники УФ-излучения, устанавливать отклонение напряжения сети и нестабилизированных источников питания в соответствии с допускаемыми отклонениями напряжения питания, установленными в стандартах и технических условиях на источник УФ-излучения конкретного типа".

Пункт 1.5. Первый абзац изложить в новой редакции:

"Класс чувствительности функциональных устройств дефектоскопов, предназначенных для выявления дефектов, - по ГОСТ 18442-80";

второй абзац. Заменить слова: "условного уровня чувствительности" на "класса чувствительности".

Пункт 1.7. Заменить слова: "Дефектоскопы, предназначенные для" на "Дефектоскопы, состоящие из функциональных устройств".

Пункт 1.10.1 изложить в новой редакции (кроме примечания):

"1.10.1. УФ-облучатели в зависимости от класса чувствительности и создаваемой УФ-облученности подразделяются на группы в соответствии с табл. 2.

Пункт 1.12. Первый абзац дополнить словами: "для составных частей, выполненных из металла, и 50 °C (323 К) - для составных частей, выполненных из материалов с низкой теплопроводностью".

Пункт 2.5. Заменить слово и обозначение: "типов" на "марок", ТС2 на ТС 3.

Пункт 2.6. Заменить обозначение: ПН на ПМ.

Пункт 2.9. Первый абзац дополнить словами: "с учетом требований ГОСТ 18442-80";

второй абзац изложить в новой редакции:

"Комбинированная освещенность обработанной проявителем контролируемой поверхности в зависимости от ее особенностей должна быть от 750 до 4000 лк при применении люминесцентных источников света или от 500 до 3000 лк при использовании ламп накаливания. Общая составляющая освещенности соответственно должна составлять от 300 до 750 лк или от 200 до 500 лк".

Пункт 2.14. Заменить ссылку: ГОСТ 12.2.007-75 на ГОСТ 12.2.007.0-75.

Пункт 2.16. Заменить ссылку: ГОСТ 15548-70 на ГОСТ 12.4.026-76.

Пункты 3.1, 3.5 изложить в новой редакции:

"3.1. Проверку дефектоскопов на соответствие требованиям пп. 1.1 и 1.6 проводят по ГОСТ 12997-76 (разд. 4) и методам, изложенным в стандартах и технических условиях на дефектоскопы конкретных типов.

Примечание. При проверке стационарных дефектоскопов на соответствие требованиям п. 1.1 допускается по согласованию с потребителем проводить испытания или каждого функционального устройства в целом, входящего в состав дефектоскопов, или каждой самостоятельной сборочной единицы функционального устройства.

3.5. Проверка УФ-облученности (пп. 1.10.1 - 1.10.3, 2.8) - по ГОСТ 18442-80 и разд. 3 "Гигиенических требований к конструированию и эксплуатации установок с искусственными источниками ультрафиолетового излучения для люминесцентного контроля качества промышленных изделий" Минздрава СССР N 1854-78. Допускается применение уфиметров различных типов".

Пункт 3.6 дополнить ссылками: 1.2, 1.4, 1.13, 2.1 - 2.3, 2.12; исключить ссылку: 1.6".