31 |
ГОСТ 18986.3-73 |
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока |
01.01.1975 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки Нормативные ссылки: ГОСТ 10961-64СТ СЭВ 2769-80IEC 60147-23;ГОСТ 18986.0-74 |
32 |
ГОСТ 18986.4-73 |
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости |
01.01.1975 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод Нормативные ссылки: ГОСТ 10964-64СТ СЭВ 2769-80IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
33 |
ГОСТ 18986.9-73 |
Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления |
01.01.1975 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления Нормативные ссылки: ГОСТ 10965-64ГОСТ 18986.0-74;СТ СЭВ 3198-81 |
34 |
ГОСТ 18986.12-74 |
Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода |
01.07.1976 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.11-74 |
35 |
ГОСТ 18986.13-74 |
Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора |
01.07.1976 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
36 |
ГОСТ 18986.15-75 |
Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации |
01.01.1977 |
действующий |
| Англ. название: Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации Нормативные ссылки: ГОСТ 14093-68СТ СЭВ 3200-81IEC 60147-2M;ГОСТ 8.401-80;ГОСТ 18986.0-74 |
37 |
ГОСТ 18986.16-72 |
Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока |
01.01.1974 |
действующий |
| Англ. название: Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока Нормативные ссылки: IEC 60147-2A;ГОСТ 18986.0-74 |
38 |
ГОСТ 18986.17-73 |
Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации |
01.07.1974 |
действующий |
| Англ. название: Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3200-81IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
39 |
ГОСТ 18986.18-73 |
Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости |
01.07.1974 |
действующий |
| Англ. название: Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3199-81ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.4-73 |
40 |
ГОСТ 18986.19-73 |
Варикапы. Метод измерения добротности |
01.01.1975 |
действующий |
| Англ. название: Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74;СТ СЭВ 3199-81 |
41 |
ГОСТ 18986.20-77 |
Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим |
01.01.1979 |
действующий |
| Англ. название: Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
42 |
ГОСТ 18986.21-78 |
Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации |
01.01.1980 |
действующий |
| Англ. название: Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
43 |
ГОСТ 18986.22-78 |
Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления |
01.01.1980 |
действующий |
| Англ. название: Reference diodes. Methods for measuring differential resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе Нормативные ссылки: ГОСТ 15603-70СТ СЭВ 3200-81IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74 |
44 |
ГОСТ 18986.23-80 |
Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума |
01.01.1982 |
действующий |
| Англ. название: Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума: метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц; метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74 |
45 |
ГОСТ 19138.0-85 |
Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров |
01.01.1987 |
действующий |
| Англ. название: Thyristors. General requirements for methods of measuring parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает общие требования к методам измерения параметров. Стандарт не распространяется на силовые тиристоры Нормативные ссылки: ГОСТ 19138.0-74CT CЭB 1622-79ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.2.091-83;ГОСТ 12.3.119-80;ГОСТ 20.57.406-81 |