юридическая фирма 'Интернет и Право'
Основные ссылки


На правах рекламы:









Яндекс цитирования





Каталог ГОСТ

Актуальность базы: 01.06.2021, объем: 45,813 документа(ов)

Для отображения списка документов выберите категорию из классификатора каталога ГОСТов.
Чтобы отобразить подкатегории классификатора ГОСТ, кликните по иконке со знаком плюс
и дождитесь подгрузки подкатегорий в нижней части экрана.
Если наименование ГОСТа заранее известно, можете воспользоваться формой поиска ниже.
Полный перечень ГОСТ в базе (алфавитный порядок)

Поиск: Где искать:
Отображать: Упорядочить:
везде в текущем разделе
Номер Название Дата введения Статус
1 ГОСТ 2.730-73 Единая система конструкторской документации. Обозначения условные графические в схемах. Приборы полупроводниковые 01.07.1974 действующий
 
Англ. название: Unified system for design documentation. Graphical symbols in diagrams. Semiconductor devices
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает правила построения условных графических обозначений полупроводниковых приборов на схемах, выполняемых вручную или автоматическим способом во всех отраслях промышленности
Нормативные ссылки: ГОСТ 2.730-68ГОСТ 2.747-68 в части пп. 33 и 34 таблицыСТ СЭВ 661-88ГОСТ 2.721-74
2 ГОСТ 4.137-85 Система показателей качества продукции. Приборы полупроводниковые силовые. Номенклатура показателей 01.01.1987 действующий
 
Англ. название: Product-quality index system. Power semiconductor devices. Nomenclature of indices
Область применения: Стандарт устанавливает номенклатуру показателей качества силовых полупроводниковых приборов, включаемых в стандарты с перспективными требованиями, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ), разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию
Нормативные ссылки: ГОСТ 20003-74;ГОСТ 20332-84;ГОСТ 20859.1-79;ГОСТ 25529-82;ГОСТ 23900-79;ГОСТ 27002-83;СТ СЭВ 1125-78
3 ГОСТ 11630-84 Приборы полупроводниковые. Общие технические условия 01.07.1985 действующий
 
Англ. название: Semiconductor devices. General specification
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые приборы, излучающие диоды и оптопары производственно-технического назначения и народного потребления, изготовляемые для народного хозяйства и экспорта
Нормативные ссылки: ГОСТ 11630-70СТ СЭВ 3992-83;СТ СЭВ 300-76
4 ГОСТ 15133-77 Приборы полупроводниковые. Термины и определения 01.07.1978 утратил силу в РФ
 
Англ. название: Semiconductor devices. Terms and definitions
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий полупроводниковых приборов. Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу деятельности по стандартизации или использующих результаты этой деятельности
Нормативные ссылки: ГОСТ 15133-69СТ СЭВ 2767-85ГОСТ Р 57436-2017ГОСТ 21934-83;ГОСТ 25066-81
5 ГОСТ 17704-72 Приборы полупроводниковые. Приемники лучистой энергии фотоэлектрические. Классификация и система обозначений 01.07.1973 действующий
 
Англ. название: Semiconductor devices. Photoelectric receivers of radiant energy. Classification and system designations
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на неохлаждаемые и охлаждаемые фотоэлектрические полупроводниковые приемники лучистой энергии и устанавливает классификацию и систему единого обозначения фоторезисторов, фотомагнитных приемников, фотоприемников с p-n переходами с внутренним усилением и без внутреннего усиления
6 ГОСТ 17772-88 Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик 01.07.1989 действующий
 
Англ. название: Semiconducting photoelectric detectors and receiving photoelectric devices. Methods of measuring photoelectric parameters and determining characteristics
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические полупроводниковые приемники излучения (ФЭПП) и фотоприемные устройства (ФПУ) на их основе, чувствительные к излучению в диапазоне длин волн от 0,2 до 100 мкм. Стандарт не распространяется на ФЭПП и ФПУ, подлежащие аттестации в качестве средств измерений. Стандарт устанавливает методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик
Нормативные ссылки: ГОСТ 17772-79СТ СЭВ 3789-82ГОСТ 8.001-80;ГОСТ 8.023-86;ГОСТ 8.186-83;ГОСТ 8.198-85;ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 8.326-78;ГОСТ 8.383-80;ГОСТ 8.513-84;ГОСТ 12.0.004-79;ГОСТ 12.1.019-79;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.1.031-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.2.007.1-75;ГОСТ 12.2.007.2-75;ГОСТ 12.2.007.3-75;ГОСТ 12.2.007.4-75;ГОСТ 12.2.007.5-75;ГОСТ 12.2.007.6-75;ГОСТ 12.2.007.7-75;ГОСТ 12.2.007.8-75;ГОСТ 12.2.007.9-75;ГОСТ 12.2.007.10-75;ГОСТ 12.2.007.11-75;ГОСТ 12.2.007.12-75;ГОСТ 12.2.007.13-75;ГОСТ 12.2.007.14-75;ГОСТ 12.2.032-78;ГОСТ 12.2.033-78;ГОСТ 12.3.002-75;ГОСТ 12.4.013-85;ГОСТ 3044-84;ГОСТ 3789-82;ГОСТ 9293-74;ГОСТ 17616-82;ГОСТ 18986.4-73
7 ГОСТ 18472-88 Приборы полупроводниковые. Основные размеры 01.07.1989 утратил силу в РФ
 
Англ. название: Semiconductor devices. Basic dimensions
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые приборы в корпусах и устанавливает их габаритные и присоединительные размеры. Стандарт не распространяется на селеновые приборы, термисторы, варисторы, выпрямительные столбы и блоки, диодные и транзисторные наборы, оптоэлектронные приборы
Нормативные ссылки: ГОСТ 18472-82СТ СЭВ 1818-86ГОСТ Р 57439-2017IEC 60191-1(1966);IEC 60191-2(1966)
8 ГОСТ 18577-80 Устойства термоэлектрические полупроводниковые. Термины и определения 01.07.1981 действующий
 
Англ. название: Thermoelectric semiconductor devices. Terms and definitions
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий полупроводниковых термоэлектрических устройств. Термины, установленные стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной литературе
Нормативные ссылки: ГОСТ 18577-73
9 ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации 01.01.1977 действующий
 
Англ. название: Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации
Нормативные ссылки: ГОСТ 14093-68СТ СЭВ 3200-81IEC 60147-2M;ГОСТ 8.401-80;ГОСТ 18986.0-74
10 ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации 01.07.1974 действующий
 
Англ. название: Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
Нормативные ссылки: СТ СЭВ 3200-81IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74
11 ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим 01.01.1979 действующий
 
Англ. название: Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности
Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74
12 ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации 01.01.1980 действующий
 
Англ. название: Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74
13 ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления 01.01.1980 действующий
 
Англ. название: Reference diodes. Methods for measuring differential resistance
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе
Нормативные ссылки: ГОСТ 15603-70СТ СЭВ 3200-81IEC 60147-2M;ГОСТ 18986.0-74
14 ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума 01.01.1982 действующий
 
Англ. название: Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума: метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц; метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц
Нормативные ссылки: ГОСТ 18986.0-74
15 ГОСТ 20859.1-89 Приборы полупроводниковые силовые. Общие технические требования 01.01.1990 действующий
 
Англ. название: Power semiconductor devices. General technical requirements
Область применения: Настоящий стандарт распространяется на силовые полупроводниковые приборы общего назначения - диоды, триодные тиристоры, биполярные (в том числе составные) транзисторы, полевые транзисторы и модули всех видов на максимально допустимые средние, действующие, импульсные или постоянные токи 10 А и более, предназначенные для применения в полупроводниковых преобразователях электроэнергии, а также в других цепях постоянного и переменного тока различных силовых электротехнических установок. Настоящий стандарт не распространяется на приборы и модули, работающие: 1) в средах с токопроводящей пылью; 2) в агрессивных средах при концентрациях, разрушающих металлы и изоляцию в недопустимых пределах в течение срока службы; 3) во взрывоопасной среде; 4) в условиях воздействия различных повреждающих приборы и модули излучений
Нормативные ссылки: ГОСТ 20859.1-79ГОСТ 30617-98 в части модулейСТ СЭВ 1135-88IEC 60747-1(1983);IEC 60747-2(1983);IEC 60747-6(1983);IEC 60147-IJ(1981);ГОСТ 2.601-68;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 8032-84;ГОСТ 15133-77;ГОСТ 15150-69;ГОСТ 15543-70;ГОСТ 17516-72;ГОСТ 18242-72;ГОСТ 20003-74;ГОСТ 20332-84;ГОСТ 23216-78;ГОСТ 23900-87;ГОСТ 24461-80;ГОСТ 24566-86;ГОСТ 25529-82;ГОСТ 27264-87;ГОСТ 27591-88

 

Источник информации: https://internet-law.ru/gosts/664/

 

На эту страницу сайта можно сделать ссылку:

 


 

На правах рекламы:




Произвольная ссылка:







Уважаемый посетитель!

Вы, кажется, используете блокировщик рекламы.

Пожалуйста, отключите его для корректной работы сайта.