Основные ссылки
|
ГОСТ Р 8.698-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
| Обозначение: | ГОСТ Р 8.698-2010 |
|---|
| Статус: | действующий |
|---|
| Тип: | ГОСТ Р |
|---|
| Название русское: | Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра |
|---|
| Название английское: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer |
|---|
| Дата актуализации текста: | 01.01.2021 |
|---|
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
|---|
| Дата регистрации: | 00.00.0000 |
|---|
| Дата издания: | 15.07.2019 |
|---|
| Дата введения в действие: | 01.09.2010 |
|---|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках |
|---|
| Расположен в: | |
|---|
Источник информации: https://internet-law.ru/gosts/gost/48741/
На эту страницу сайта можно сделать ссылку:
На правах рекламы:
|
