Основные ссылки
|
ГОСТ Р 59743.2-2022
Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта
| Обозначение: | ГОСТ Р 59743.2-2022 |
|---|
| Статус: | действующий |
|---|
| Тип: | ГОСТ Р |
|---|
| Название русское: | Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта |
|---|
| Название английское: | Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations |
|---|
| Дата актуализации текста: | 01.01.2023 |
|---|
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
|---|
| Дата регистрации: | 00.00.0000 |
|---|
| Дата издания: | 01.08.2022 |
|---|
| Дата введения в действие: | 01.03.2023 |
|---|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз |
|---|
| Расположен в: | |
|---|
Источник информации: https://internet-law.ru/gosts/gost/78406
На эту страницу сайта можно сделать ссылку:
На правах рекламы:
|
