ФЕДЕРАЛЬНОЕ
АГЕНТСТВО
ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
|
|
НАЦИОНАЛЬНЫЙ
СТАНДАРТ
РОССИЙСКОЙ
ФЕДЕРАЦИИ
|
ГОСТ Р
53696-
2009
|
Контроль неразрушающий
МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКИЕ
Термины и определения
|
Москва
Стандартинформ
2010
|
Предисловие
Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом от 27 декабря 2002 г. № 184-ФЗ «О техническом регулировании», а правила применения национальных
стандартов Российской Федерации - ГОСТ Р 1.0-2004 «Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения»
Сведения о стандарте
1
РАЗРАБОТАН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский
научно-исследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»)
2 ВНЕСЕН Управлением по метрологии Федерального агентства по техническому регулированию
и метрологии
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому
регулированию и метрологии от 15 декабря 2009 г. № 1100-ст
4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом
информационном указателе «Национальные стандарты», а текст изменений и поправок - в ежемесячно издаваемых информационных указателях «Национальные стандарты». В случае пересмотра
(замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано
в ежемесячно издаваемом информационном указателе «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего
пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и
метрологии в сети Интернет
Содержание
Введение
Установленные в стандарте термины, отражающие понятия в области оптического неразрушающего контроля, расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий данной
области знания.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Некоторые термины сопровождены краткими формами, которые следует применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.
Установленные определения можно при необходимости изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятий.
В случаях, когда необходимые и достаточные признаки понятия содержатся в буквальном значении термина, определение не приведено, вместо него поставлен прочерк.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткая форма - светлым.
В стандарт включены алфавитный указатель содержащихся в нем стандартизованных терминов
на русском языке, справочное приложение А, в котором приведены термины общих физических понятие
и технические термины, применяемые при оптическом неразрушающем контроле, и справочное приложение Б, в котором приведены термины приборов, применяемых при оптическом неразрушающем
контроле.
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ
ФЕДЕРАЦИИ
Контроль неразрушающий
МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКИЕ
Термины и определения
Non-destructive testing. Optical methods.
Terms and definitions
|
Дата введения - 2011-01-01
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и
определения основных понятий в области оптического неразрушающего контроля качества материалов, полуфабрикатов и изделий (далее - объекты контроля).
Термины, установленные стандартом, предназначены для применения в документации всех
видов, научно-технической, учебной и справочной литературе.
2 Термины и определения
2.1.1
оптический неразрушающий контроль; оптический контроль: Неразрушающий контроль, основанный на анализе взаимодействия оптического излучения с объектом контроля,
2.1.2 контраст дефекта: Отношение разности энергетических яркостей дефекта и окружающего его
фона к одной из них либо их сумме.
2.1.3 видимость дефекта: Отношение фактического контраста дефекта к его пороговому значению в
заданных условиях.
2.2 Методы оптического неразрушающего контроля
2.2.1 метод прошедшего оптического излучения; метод прошедшего излучения: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, прошедшего сквозь объект.
2.2.2 метод отраженного оптического излучения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, отраженного от объекта контроля.
2.2.3
метод рассеянного оптического излучения; метод рассеянного излучения: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, рассеянного от объекта контроля.
2.2.4
метод собственного оптического излучения; метод собственного излучения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров собственного излучения объекта
контроля.
2.2.5 метод индуцированного оптического излучения; метод индуцированного излучения: Метод
оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, генерируемого объектом контроля при постороннем воздействии.
2.2.6 спектральный метод оптического излучения; спектральный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спектра оптического излучения после его взаимодействия
с объектом контроля.
2.2.7 когерентный метод оптического излучения; когерентный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении степени когерентности оптического излучения после его
взаимодействия с объектом контроля.
2.2.8
амплитудный метод оптического излучения; амплитудный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации интенсивности оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.9
временной метод оптического излучения; временной метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации времени прохождения оптического излучения через объект
контроля.
2.2.10
геометрический метод оптического излучения; геометрический метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на регистрации направления оптического излучения после его
взаимодействия с объектом контроля.
2.2.11
поляризационный метод оптического излучения; поляризационный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации степени поляризации оптического излучения
после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.12
фазовый метод оптического излучения; фазовый метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации фазы оптического излучения после его взаимодействия с
объектом контроля.
2.2.13
интерференционный метод оптического излучения; интерференционный метод: Метод
оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе интерференционной картины, получаемой при взаимодействии когерентных волн, опорной и модулированной объектом контроля.
2.2.14
дифракционный метод оптического излучения; дифракционный метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии когерентного оптического излучения с объектом контроля.
2.2.15
рефракционный метод оптического излучения; рефракционный метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров преломления оптического излучения
объектом контроля.
2.2.16 абсорбционный метод оптического излучения; абсорбционный метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров поглощения оптического излучения
объектом контроля.
2.2.17
визуально-оптический метод оптического излучения; визуально-оптический метод: Метод
оптического неразрушающего контроля, основанный на наблюдении объекта контроля или его изображения с помощью оптических или оптико-электронных приборов.
2.2.18
фотохимический метод оптического излучения; фотохимический метод: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотохимических процессов, возникающих при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.19
оптико-акустический метод оптического излучения; оптико-акустический метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров оптико-акустического эффекта, возникающего при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.20
фотолюминесцентный метод оптического излучения; фотолюминесцентный метод: Метод
оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров люминесценции, возникающей при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.21
электрооптический метод оптического излучения; электрооптический метод: Поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на
объект контроля внешнего электрического поля.
2.2.22
магнитооптический метод оптического излучения; магнитооптический метод: Поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на
объект контроля магнитного поля.
2.2.23 метод согласованной фильтрации оптического излучения; метод согласованной фильтрации: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе изображения объекта контроля с помощью оптического согласованного фильтра.
2.2.24
метод разностного оптического изображения; метод разностного изображения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации различий в изображениях объекта контроля и контрольного образца.
2.2.25 метод фотоэлектрического оптического излучения; метод фотоэлектрического излучения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотоэлектрического эффекта, возникающего при облучении объекта контроля оптическим излучением.
2.2.26 метод спекл-интерферометрии оптического излучения; метод спекл-интерферометрии: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на использовании пространственной корреляции интенсивности диффузно-когерентного оптического излучения для получения интерференционных топограмм объекта контроля.
2.2.27 метод спекл-структур оптического излучения; метод спекл-структур: Метод оптического
неразрушающего контроля, основанный на анализе спекл-структур, образующихся при отражении когерентного оптического излучения от шероховатости поверхности объекта контроля.
2.2.28
метод муаровых полос: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе топограмм объекта контроля, получаемых с помощью оптически сопряженных растров.
2.2.29
фотоимпульсный метод контроля геометрических размеров изделия; фотоимпульсный
метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении длительности импульсов оптического излучения, пропорциональных геометрическим размерам объекта контроля и получаемых с помощью сканирования его изображения.
2.2.30
фотокомпенсационный метод контроля геометрических размеров изделия; фотокомпенсационный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении изменений
интенсивности оптического излучения, вызванных отклонением геометрических размеров объекта контроля от контрольного образца.
2.2.31
фотоследящий метод контроля геометрических размеров изделия; фотоследящий метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации перемещений фотоследящего устройства, пропорциональных изменению геометрических размеров объекта контроля.
2.2.32
голографический метод оптического неразрушающего контроля; голографический
метод: -
2.3 Средства оптического неразрушающего контроля
2.3.1 прибор неразрушающего контроля оптический: Система, состоящая из осветительных, оптических и регистрирующих устройств, а также средств калибровки и настройки, предназначенная для
оптического неразрушающего контроля.
Примечание - При наличии у прибора оптического неразрушающего контроля нормируемых метрологических характеристик он может использоваться в качестве измерительного прибора.
2.3.2 источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля; источник излучения: Часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для облучения или освещения
объекта контроля.
2.3.3
оптическая система: Часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная
для формирования пучков оптического излучения, несущих информацию об объекте контроля.
2.3.4
приемное устройство: Часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная
для регистрации первичного информативного параметра оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
Примечание - В зависимости от вида регистрации различают фотоэлектрическое, фотографическое и другие приемные устройства.
2.3.5
оптический дефектоскоп: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный
для обнаружения несплошностей и неоднородностей материалов и изделий.
2.3.6
лазерный эллипсометр: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для
измерения толщины и (или) показателя преломления прозрачных пленок поляризационным методом
2.3.7
оптический структуроскоп: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный
для анализа структуры и (или) физико-химических свойств материалов и изделий.
2.3.8
оптический толщиномер: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный
для измерения толщины объектов контроля и (или) глубины залегания дефектов.
2.4 Освещение объекта контроля
2.4.1 световое сечение: Освещение объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа.
2.4.2 темное поле: Освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов больше яркости
поверхности, на которой они расположены.
2.4.3
светлое поле: Освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов меньше яркости
поверхности, на которой они расположены.
2.4.4
стробоскопическое облучение: Облучение объекта контроля модулизированным оптическим
излучением, частота и фаза которого синхронизированы с движением объекта контроля.
2.4.5
когерентное облучение: Облучение объекта контроля когерентным излучением.
2.4.6
монохроматическое облучение: -
2.4.7
полихроматическое облучение: Облучение объекта контроля полихроматическим оптическим
излучением.
2.4.8
сканирующее облучение: Облучение объекта контроля оптическим излучением с применением
сканирования.
2.4.9
телецентрическое облучение: Облучение объекта контроля параллельным пучком оптического
излучения.
2.4.10 стигматическое облучение: Облучение объекта контроля точечным источником оптического
излучения.
Алфавитный указатель терминов
Видимость дефекта
|
2.1.3
|
Дефектоскоп оптический
|
2.3.5
|
Источник излучения
|
2.3.2
|
Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля
|
2.3.2
|
Контраст дефекта
|
2.1.2
|
Контроль неразрушающий оптический
|
2.1.1
|
Контроль оптический
|
2.1.1
|
Метод абсорбционный
|
2.2.16
|
Метод амплитудный
|
2.2.8
|
Метод визуально-оптический
|
2.2.17
|
Метод временной
|
2.2.9
|
Метод геометрический
|
2.2.10
|
Метод голографический
|
2.2.32
|
Метод дифракционный
|
2.2.14
|
Метод индуцированного излучения
|
2.2.5
|
Метод индуцированного оптического излучения
|
2.2.5
|
Метод интерференционный
|
2.2.13
|
Метод когерентный
|
2.2.7
|
Метод контроля геометрических размеров изделия фотоимпульсный
|
2.2.29
|
Метод контроля геометрических размеров изделия фотокомпенсационный
|
2.2.30
|
Метод контроля геометрических размеров изделия фотоследящий
|
2.2.31
|
Метод магнитооптический
|
2.2.22
|
Метод муаровых полос
|
2.2.28
|
Метод оптико-акустический
|
2.2.19
|
Метод оптического излучения абсорбционный
|
2.2.16
|
Метод оптического излучения амплитудный
|
2.2.8
|
Метод оптического излучения визуально-оптический
|
2.2.17
|
Метод оптического излучения временной
|
2.2.9
|
Метод оптического излучения геометрический
|
2.2.10
|
Метод оптического излучения дифракционный
|
2.2.14
|
Метод оптического излучения интерференционный
|
2.2.13
|
Метод оптического излучения когерентный
|
2.2.7
|
Метод оптического излучения магнитооптический
|
2.2.22
|
Метод оптического излучения оптико-акустический
|
2.2.19
|
Метод оптического излучения поляризационный
|
2.2.11
|
Метод оптического излучения рефракционный
|
2.2.15
|
Метод оптического излучения спектральный
|
2.2.6
|
Метод оптического излучения фазовый
|
2.2.12
|
Метод оптического излучения фотолюминесцентный
|
2.2.20
|
Метод оптического излучения фотохимический
|
2.2.18
|
Метод оптического излучения электрооптический
|
2.2.21
|
Метод оптического неразрушающего контроля голографический
|
2.2.32
|
Метод отраженного оптического излучения
|
2.2.2
|
Метод поляризационный
|
2.2.11
|
Метод прошедшего излучения
|
2.2.1
|
Метод прошедшего оптического излучения
|
2.2.1
|
Метод разностного изображения
|
2.2.24
|
Метод разностного оптического изображения
|
2.2.24
|
Метод рассеянного излучения
|
2.2.3
|
Метод рассеянного оптического излучения
|
2.2.3
|
Метод рефракционный
|
2.2.15
|
Метод собственного излучения
|
2.2.4
|
Метод собственного оптического излучения
|
2.2.4
|
Метод согласованной фильтрации
|
2.2.23
|
Метод согласованной фильтрации оптического излучения
|
2.2.23
|
Метод спекл-интерферометрии
|
2.2.26
|
Метод спекл-интерферометрии оптического излучения
|
2.2.26
|
Метод спекл-структур
|
2.2.27
|
Метод спекл-структур оптического излучения
|
2.2.27
|
Метод спектральный
|
2.2.6
|
Метод фазовый
|
2.2.12
|
Метод фотоимпульсный
|
2.2.29
|
Метод фотокомпенсационный
|
2.2.30
|
Метод фотолюминесцентный
|
2.2.20
|
Метод фотоследящий
|
2.2.31
|
Метод фотохимический
|
2.2.18
|
Метод фотоэлектрического излучения
|
2.2.25
|
Метод фотоэлектрического оптического излучения
|
2.2.25
|
Метод электрооптический
|
2.2.21
|
Облучение когерентное
|
2.4.5
|
Облучение монохроматическое
|
2.4.6
|
Облучение полихроматическое
|
2.4.7
|
Облучение сканирующее
|
2.4.8
|
Облучение стигматическое
|
2.4.10
|
Облучение стробоскопическое
|
2.4.4
|
Облучение телецентрическое
|
2.4.9
|
Поле светлое
|
2.4.3
|
Поле темное
|
2.4.2
|
Прибор неразрушающего контроля оптический
|
2.3.1
|
Сечение световое
|
2.4.1
|
Система оптическая
|
2.3.3
|
Структуроскоп оптический
|
2.3.7
|
Толщиномер оптический
|
2.3.8
|
Устройство приемное
|
2.3.4
|
Эллипсометр лазерный
|
2.3.6
|
Приложение А
(справочное)
Термины общих физических понятий и технические термины, применяемые при оптическом неразрушающем контроле
А.1 спекл-структура: Случайное распределение интенсивности, характерное для диффузно-когерентного излучения.
А.2 сканирование: Анализ исследуемого пространства путем последовательного его просмотра при передвижении мгновенного поля зрения по полю обзора.
Приложение Б
(справочное)
Термины приборов, применяемых при оптическом неразрушающем контроле
Б.1 эндоскоп: Оптический прибор, имеющий осветительную систему и предназначенный для осмотра внутренних
поверхностей объекта контроля.
Б.2 оптический компаратор: Оптический прибор, предназначенный для одновременного наблюдения объекта
контроля и контрольного образца.
Б.3 субтрактивный видеоанализатор: Оптический прибор для формирования разностного изображения объекта контроля и контрольного образца.
Б.4 оптический дисдрометр: Оптический прибор для анализа объемного распределения микрочастиц в контролируемой среде.
Ключевые слова: оптический неразрушающий контроль, методы оптические, оптическое излучение, оптический дефектоскоп, контраст дефекта, оптическая система