Вернуться в "Каталог ГОСТ"

ГОСТ Р 57394-2017

Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Обозначение:	ГОСТ Р 57394-2017
Статус:	действующий
Тип:	ГОСТ Р
Название русское:	Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Название английское:	Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation
Дата актуализации текста:	05.05.2017
Дата актуализации описания:	01.01.2023
Дата регистрации:	00.00.0000
Дата издания:	17.04.2017
Дата введения в действие:	01.01.2018
Область и условия применения:	Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации
Расположен в:	Общероссийский классификатор стандартов → Электроника → Интегральные схемы. Микроэлектроника → Полупроводниковые приборы → Полупроводниковые приборы в целом Классификатор государственных стандартов → Электронная техника, радиоэлектроника и связь → Элементы радиоэлектронной аппаратуры → Методы испытаний. Упаковка. Маркировка