Основные ссылки
|
ГОСТ Р 71645-2024
Кремний полупроводниковый. Метод измерения концентрации примесей
| Обозначение: | ГОСТ Р 71645-2024 |
|---|
| Статус: | действующий |
|---|
| Тип: | ГОСТ Р |
|---|
| Название русское: | Кремний полупроводниковый. Метод измерения концентрации примесей |
|---|
| Название английское: | Silicon is a semiconductor. Method of measuring the concentration of impurities |
|---|
| Дата актуализации текста: | 01.12.2024 |
|---|
| Дата актуализации описания: | 01.06.2025 |
|---|
| Дата регистрации: | 00.00.0000 |
|---|
| Дата издания: | 09.10.2024 |
|---|
| Дата введения в действие: | 01.03.2025 |
|---|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемый и модернизируемый полупроводниковый кремний и устанавливает химико-атомно-эмиссионный метод измерения концентрации примесей с возбуждением спектров разрядов с горячим полым катодом. Интервалы определяемых значений концентрации примесей приведены в приложении А. Стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий (ТЗ) на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний (ПИ), опытных образцов, стандартов на методы измерений, номенклатуру показателей системы показателей качества и технического уровня полупроводникового кремния |
|---|
| Расположен в: | |
|---|
Источник информации: https://internet-law.ru/gosts/gost/83578/
На эту страницу сайта можно сделать ссылку:
На правах рекламы:
|
