Область применения: Настоящий стандарт распространяется на обозначения условные графические в схемах на генераторы и усилители квантовые

Область применения: Стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества фотоэлектрическиз полупроводниковых приемников излучения и фотоприемных устройств производственно-технического назначения и народного потребления, включаемых в ТЗ на НИР, ТЗ на ОКР, ТУ, КУ

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на лазерный эллипсометрический микроскоп ЛЭМ-2, предназначенный для определения эллипсометрических параметров поляризованного света, определяемых по углам поворота оптических элементов в момент погасания, что позволяет использовать прибор для измерения толщины и показателя преломления прозрачных диэлектрических покрытий на отражающих полированных поверхностях различных материалов и, в частности, на полупроводниковых пластинах, а также для контроля равномерности и однородности диэлектрических пленок по площади и определения наличия и толщины окисла в окнах, вытравленных в процессе изготовления полупроводниковых приборов

Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методы измерений параметров лазерного излучения в диапазоне длин волн от 0,2 до 20 мкм в заданной точке пространства с целью определения степени опасности излучения для организма человека. Стандарт обязателен для всех министерств и ведомств СССР, разрабатывающих и эксплуатирующих лазеры

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на селеновые фотоэлементы, предназначенные для фотометрирования и колориметрирования пламени пиротехнических составов. Стандарт устанавливает требования к фотоэлементам, применяемым при фотометрировании и колориметрировании светящегося пламени единичных световых вспышек с временем достижения максимума силы света не менее 0,001 с и модулированного света с частотой не более 100 Гц; при этом освещенность на фотоэлементе должна быть от 2 до 2000 лк

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптическое бесцветное стекло в заготовках и деталях и устанавливает метод определения оптической однородности на коллиматорной установке с помощью штриховых мир и точечных диафрагм

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптические неорганические материалы: бесцветное, цветное, кварцевое стекло, стекло с особыми свойствами, кристаллы, относящиеся к кубической сингонии, и поликристаллические материалы и устанавливает методы определения двулучепреломления на поляризационном измерительном компенсаторе, полярископе-поляриметре и фазовом поляриметре в видимой области спектра. Стандарт не распространяется на оптические кристаллы, вращающие плоскость поляризации, а также одноосные и двуосные кристаллы в случае распространения излучения в направлениях, отличных от оптических осей и бинормалей

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптические материалы: стекло бесцветное и цветное, кварцевое стекло, кристаллические материалы и устанавливает используемые при контроле методы определения спектрального показателя ослабления в области спектра от 0,1 до 25 мкм и показателя ослабления для источника А по ГОСТ 7721

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптическое стекло в заготовках, деталях и в виде сырьевого стекла в различных формах исполнения и устанавливает метод определения бессвильности

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптические неорганические материалы: бесцветные, цветные и кварцевые стекла, стекла с особыми свойствами, кристаллы и оптические керамику в заготовках, деталях и в виде сырьевого материала

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает общие требования при проведении измерений

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает метод измерения световой чувствительности фотокатода

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает два метода измерения световой анодной чувствительности

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения одного и устанавливает метод косвенного измерения неравномерности световой анодной чувствительности по фотокатоду

Область применения: Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители с числом каскадов умножения более одного и устанавливает метод измерения темнового тока