- ножницы глазные по ГОСТ 21239-89;
- скальпель по ГОСТ 21240-89;
- бритвенное лезвие фирмы "TedPella, Inc." (США), кат. N 121-1 или аналогичная;
- пенициллиновые флаконы стеклянные или полиэтиленовые с завинчивающейся крышкой вместимостью 10 куб. см (для фиксации);
- пробирки стеклянные (с пробкой) или полиэтиленовые с завинчивающейся крышкой вместимостью 20 куб. см (для фиксации суспензионных образцов);
- пенициллиновые флаконы стеклянные вместимостью 10 куб. см (для проводки);
- чашки Петри стеклянные (диаметром 12 куб. см) по ГОСТ 25336-82;
- штативы для пробирок;
- цилиндр мерный вместимостью 100 куб. см с наименьшей ценой деления 1 куб. см по ГОСТ 1770-74;
- колбы (стеклянные без крышки) вместимостью 100; 250 куб. см по ГОСТ 1770-74, ГОСТ 23932-90;
- колба мерная стеклянная с притертой крышкой вместимостью 250 куб. см по ГОСТ 1770-74, ГОСТ 23932-90;
- пипетки стеклянные или пластиковые градуированные вместимостью 5 куб. см по ГОСТ 29227-91;
- наконечники для автоматических дозаторов полистирольные нестерильные вместимостью 200 и 1000 куб. мм;
- система для фильтрации растворов стеклянная вместимостью 1,0 куб. дм с вакуумным насосом;
- мембраны эфирно-целлюлозные толщиной 150 мкм, диаметром 47 мм с размером пор 0,22 мкм;
- пинцет для электронно-микроскопических работ 110 мм, тип 5, кончик 0,05 х 0,01 мм (или 115 мм, тип 7, кончик 0,10 х 0,06 мм), ненамагничивающийся TedPella;
- полипропиленовые пробирки для микропроб однократного применения типа "Эппендорф" вместимостью 1,5 и 2,0 куб. см по ТУ 64-2-30-80;
- полиэтиленовые капсулы с плоским или коническим дном для заливки образцов, диаметр от 6 мм, выдерживающие нагрев до 75 °C, или полипропиленовые аналогичные капсулы, выдерживающие нагрев до 100 °C, производства BEEM(R) Embedding Capsule или аналогичные;
- контейнеры тефлоновые с размером лунки от 0,5 х 0,5 см до 1,0 х 1,0 см для заливки образцов в эпоксидную смолу;
- электронно-микроскопические бленды (медные), отверстие круглое 1, 3 мм или овальное 1 х 2 мм, или сетки медные круглые с размером отверстий 200 - 450 мкм;
- специальное стекло для изготовления стеклянных ножей шириной 25 мм, длиной 400 или 200 мм, толщина 6 или 10 мм фирмы TedPella, Agar Scientific или аналогичное (если используются стеклянные ножи);
- пластиковые одноразовые ванночки для сбора срезов фирмы TedPella или аналогичные;
- палочки для чистки алмазного ножа из сердцевины пробкового дерева фирмы TedPella, Agar Scientific или аналогичные (если используется алмазный нож);
- стеклянная палочка длиной до 220 см и диаметром 3 - 5 мм;
- химически чистое отшлифованное стекло для получения формваровой пленки;
- специальный стеклянный стакан для приготовления и хранения раствора формвара;
- наклейки для маркировки;
- фильтровальная бумага.
6.1.3. Оборудование:
- вытяжной шкаф, оборудованный фильтром для улавливания наночастиц;
- холодильник бытовой электрический по ГОСТ 26678-85;
- центрифуга со скоростью вращения ротора до 12000 об./мин. и охлаждением для микропробирок вместимостью 1,5 куб. см (5415 R "Eppendorf", ФРГ, или аналогичная);
- центрифуга мультифункциональная со скоростью вращения ротора до 5000 об./мин. (с бакет-ротором) и 14000 об./мин. (с угловым ротором), охлаждением для пробирок вместимостью 20 куб. см (5804 R "Eppendorf", ФРГ, или аналогичная) (для суспензионных образцов);
- весы лабораторные общего назначения 2-го класса точности с погрешностью взвешивания не более 0,001 г по ГОСТ 24104-2001;
- pH-метр по ГОСТ 27987-88 или аналогичный, диапазон измерения pH, ед. pH от 0,0 до 14, дискретность измерения 0,01;
- ультрамикротом, обеспечивающий возможность получения ультратонких срезов биологических образцов толщиной 30 - 100 нм, скорость резания 0,1 - 50 мм/с, термоподача 40 - 60 нм;
- прибор для изготовления стеклянных ножей для ультрамикротомов LKB 7800 или аналогичный;
- алмазные ножи для ультрамикротома;
- магнитная мешалка с регулируемой частотой вращения магнитного якоря в диапазоне 100 - 1200 об./мин., рассчитанная на объем до 1,0 куб. дм;
- электромешалка со спиральной насадкой низкоскоростная (до 250 об./мин.), рассчитанная на объем до 0,5 куб. дм;
- суховоздушный термостат с диапазоном регулируемых температур от 25 до 80 °C и точностью +/- 0,4 °C;
- дистиллятор, объем от 4 куб. дм, производительность от 1 куб. дм/ч;
- автоматические дозаторы с переменным объемом дозирования 100 - 1000 куб. мм, 20 - 200 куб. мм и 2 - 20 куб. мм;
- держатели для прямоугольных и круглых блоков, совместимые с используемым ультрамикротомом, фирма TedPella, Agar Scientific, или аналогичные;
- лобзик ручной механический для обработки залитых в эпоксидную смолу образцов;
- бинокулярная лупа, оснащенная настольным штативом, с линейным полем зрения от 2 до 10 см и диапазоном увеличений 0,6х, 1х, 2х, 4х, 8х;
- встряхиватель вибрационный типа "Вортекс" со скоростью вращения до 3000 об./мин. (V3 "Elmi Ltd", Латвия, или аналогичный);
- ламинарный бокс биологической безопасности, класс IIА.
Рабочие растворы готовят в соответствии с общепринятыми правилами лабораторной практики. pH растворов контролируют при помощи pH-метра. Приготовленные растворы фильтруют через мембранные фильтры с диаметром пор 0,22 мкм. После каждого использования рабочие инструменты подвергают тщательной обработке в ультразвуковой ванне во избежание перекрестной контаминации образцов наночастицами.
6.2.1. Растворы, необходимые для подготовки образцов:
- двукратный фосфатно-солевой буферный раствор (0,2 моль/куб. дм), pH
7,2 - 7,4 (0,04 моль/куб. дм KH PO , 0,16 моль/куб. дм K HPO ), с
2 4 2 4
добавлением 1,76% (масса/объем) NaCl;
- однократный фосфатно-солевой буферный раствор (0,1 моль/куб. дм), pH
7,2 - 7,4 (0,02 моль/куб. дм KH PO , 0,08 моль/куб. дм K HPO ),
2 4 2 4
с добавлением 0,88% (масса/объем) NaCl;
- фиксирующий раствор (2,5% глутарового альдегида в 0,1 моль/куб. дм
фосфатно-солевом буферном растворе, pH 7,2 - 7,4, с добавлением 2%-ного
нейтрального формалина), из расчета 4 куб. см на 1 образец;
- водные растворы этанола с концентрацией 50, 60, 70 и 80%, из расчета
2 куб. см на 1 образец;
- 2%-ный водный раствор OsO ;
4
- 1%-ный раствор OsO в 0,1 моль/куб. дм фосфатно-солевом буферном
4
растворе, pH 7,2 - 7,44, из расчета 2 куб. см на 1 образец.
Процедуры приготовления перечисленных растворов детально изложены в МР
1.2.2641-10 "Определение приоритетных видов наноматериалов в объектах
окружающей среды, пищевых продуктах и живых организмах" (пункт 5.1.3.3).
Растворы фильтруют и хранят в плотно закрытых емкостях при температуре
4 °C в течение 1 месяца, за исключением фиксирующего раствора и 1%-ного
раствора OsO в 0,1 моль/куб. дм фосфатно-солевом буферном растворе,
4
которые готовят непосредственно перед использованием.
6.2.2. Приготовление смеси эпоксидных смол.
Смесь эпоксидных смол готовят непосредственно перед использованием согласно процедуре, изложенной в пункте 5.2.5.
6.2.3. Приготовление смесей ацетона и эпоксидной смолы.
Ацетон и смесь эпоксидных смол без добавления катализатора, приготовленную по п. 5.2.5, смешивают в объемных соотношениях 3:1, 1:1, 1:3. Каждую смесь готовят непосредственно перед использованием из расчета 2 куб. см на 1 образец.
методом электронной микроскопии
Все работы с использованием органических растворителей (ацетон и его смеси с эпоксидными смолами) ведут в вытяжном шкафу, применяя только стеклянную посуду.
6.3.1. Тяжелые металлы, применяемые для контрастирования клеточных структур при стандартной подготовке биологических образцов для ПЭМ, существенно мешают обнаружению фуллерена С60. Поэтому образцы для детекции фуллерена С60 следует готовить без использования контрастирующих реагентов или с применением только тетраоксида осмия, который не оказывает значительного влияния на результаты анализа. Всю совокупность фиксированных образцов разделяют на две равноценные группы, одну из которых (в дальнейшем - группа N 1) дополнительно фиксируют и контрастируют тетраоксидом осмия, а вторую (группа N 2) подвергают обработке без применения контрастирующих агентов. Таким образом, при подготовке проб группы N 1 применяют полную процедуру, описанную в п. п. 6.3.2 - 6.3.9, а при подготовке проб группы N 2 исключают п. 6.3.3 и п. 6.3.4.
6.3.2. Каждый образец отмывают от фиксирующего раствора, инкубируя в 2 куб. см 0,1 моль/куб. дм фосфатного солевого раствора, pH 7,2 - 7,4, три раза по 5 минут однократно при комнатной температуре.
4
в 0,1 моль/куб. дм фосфатном солевом растворе pH 7,2 - 7,4 в течение 2 ч.
pH 7,2 - 7,4, 2 - 4 раза до получения прозрачного смыва.
6.3.5. Образцы дегидратируют в серии растворов этанола возрастающих
концентраций. Для этого пробы обрабатывают 2 куб. см каждого из
водно-спиртовых растворов в следующем порядке:
- 50%-ным этанолом холодным (4 °C) отмывают образцы от OsO 3 - 4 раза
4
по 5 мин. до исчезновения потемнения раствора; использование холодного
50%-ного этанола предотвращает выпадение соединения осмия в осадок;
- 60%-ным этанолом в течение 20 мин. при 4 °C (2 раза);
- 70%-ным этанолом в течение 12 ч при 4 °C (оставляют на ночь
в холодильнике);
- 80%-ным этанолом в течение 20 мин. при комнатной температуре;
- 96%-ным этанолом в течение 20 мин. при комнатной температуре.
6.3.6. Пробы обрабатывают 100%-ным ацетоном для полного вытеснения этанола (3 раза по 45 мин. при комнатной температуре).
6.3.7. Образцы пропитывают смесями ацетона с эпоксидными смолами (приготовленными по п. 5.2.5) в последовательности, которая обеспечивает возрастание концентрации эпоксидных смол:
- из 3 частей ацетона и 1 части смеси эпоксидных смол (п. 5.2.6) - в течение 2 ч при комнатной температуре;
- из 2 частей ацетона и 2 частей смеси эпоксидных смол - в течение 2 ч при комнатной температуре;
- из 1 части ацетона и 3 частей смеси эпоксидных смол - в течение 12 ч при комнатной температуре;
- 100%-ной смеси эпоксидных смол - в течение 2 ч при комнатной температуре.
6.3.8. Подготовленные образцы стеклянной палочкой переносят в заливочные контейнеры (допустимо использование фармацевтических блистеров для таблеток), заполненные 100%-ной смесью эпоксидных смол с добавлением катализатора. Для полимеризации смолы контейнеры с образцами инкубируют в термостате при 37 °C в течение 24 ч, затем при 60 °C в течение 48 ч.
6.3.9. Из образцов, заключенных в смесь эпоксидных смол, при помощи лобзика выпиливают блоки размером 2 х 2 х 5 мм. Из эпоксидного блока, закрепленного в держателе, лезвием бритвы формируют усеченную пирамиду, с которой при помощи ультрамикротома, оснащенного стеклянным или алмазным ножом, получают срезы толщиной 40 - 80 нм. Для повышения статистической значимости результатов анализа нарезку пробы организуют в виде 4 - 6 серий, отстоящих друг от друга не менее чем на 100 мкм, по 10 срезов в каждой серии. Случайно выбранные срезы (по 1 - 2 из каждой серии) вылавливают на бленды, покрытые формваровой пленкой, и высушивают не менее 1 часа. Необходимо удостовериться, что на отобранных срезах присутствует ткань.
образцов порошка фуллерена С60
Препараты порошка фуллерена С60, заключенного в эпоксидную смолу, готовят согласно процедуре, описанной в подразделе 5.4.
электронно-микроскопических измерений
Выявление мономеров молекул фуллерена С60, размер которых 0,7 нм, в биологических образцах методами электронной микроскопии не представляется возможным. Однако фуллерен С60 имеет тенденцию накапливаться в клетках и структурах тканей в виде агрегатов. Детекция и идентификация агрегатов фуллерена С60 в срезах тканей растений и животных с применением методов аналитической ПЭМ основаны на том, что агрегаты фуллерена С60 имеют повышенную электронную плотность, выраженные морфологические отличия от биогенных структур, характеристические картину дифракции электронов и спектр ХПЭЭ. Для выявления агрегатов фуллерена С60 следует использовать неконтрастированные образцы (группа N 2). Образцы, контрастированные тетраоксидом осмия (группа N 1), рекомендуется использовать, если помимо выявления агрегатов фуллерена С60 необходимо охарактеризовать их локализацию в тканевых структурах. При этом вначале следует провести выявление агрегатов фуллерена С60 в препаратах проб группы N 2.
Для каждого анализируемого органа или вида ткани проводят измерения не менее чем на 3 срезах, взятых из различных частей образца. Процедура проведения измерения включает в себя:
а) регистрацию изображений, картины электронной дифракции и спектра ХПЭЭ от агрегатов фуллерена С60, получаемых при заливке чистого порошка фуллерена С60 в эпоксидную смолу (образец сравнения), с использованием настроек микроскопа, которые будут применяться при анализе образцов тканей растений или животных;
б) регистрацию обзорных изображений среза тканей растений или животных при увеличениях микроскопа от 6000х до 20000х с целью обнаружения электроноплотных включений, предполагаемых агрегатов фуллерена С60;
в) регистрацию изображений обнаруженных электронно-плотных включений при больших увеличениях микроскопа;
г) измерение электронограмм от обнаруженных электронно-плотных включений;
д) измерение спектров ХПЭЭ от обнаруженных электронно-плотных включений;
е) оценку плотности распределения агрегатов фуллерена С60 в анализируемом срезе.
электронной дифракции и спектра ХПЭЭ от образца
сравнения агрегатов фуллерена С60
7.2.1. После проведения стандартных процедур по настройке и юстировке прибора, изложенных в п. 6.1.2 МР 1.2.2639-10, срезы просматривают на средних увеличениях (от 6000х до 20000х, в зависимости от модели микроскопа и расположения цифровой камеры относительно флуоресцентного экрана). Образец исследуют зигзагообразно, используя принцип систематического случайного выбора:
а) определяют границы среза;
б) намечают воображаемую прямоугольную систему координат, совмещая ее первый квадрант с площадью среза (рисунок 1 - здесь и далее рисунки не приводятся);
в) в пределах среза, вблизи точки отсчета, выбирают первое поле зрения;
г) перемещают поле зрения вдоль выбранной оси системы координат (рисунок 1, OX);
д) дойдя до края среза, сдвигают перпендикулярно на величину одного поля зрения (рисунок 1, OY) и продолжают сканирование в противоположном направлении (рисунок 1, XO);
е) повторяют пункт "д" до обнаружения характерных включений, морфологически идентичных агрегатам фуллерена С60 (рисунок 2, А).
7.2.2. Получают изображение поля зрения, выбранного в пункте 7.2.1 "е", в режиме ПЭМ при средних увеличениях.
7.2.3. Получают ПЭМ-изображение найденных включений при увеличении 50000 - 200000х. Конкретное значение этого параметра выбирают так, чтобы оно обеспечивало возможность различить и охарактеризовать морфометрически элементы агрегата (т.е. размеры проекции изображения самого мелкого в скоплении агрегата на матрицу камеры должны составлять не менее 5 х 5 пикселей). Предпочтительно, чтобы выбранное увеличение позволяло детектировать характерную, типичную для фуллерена С60, параллельную исчерченность (рисунок 2, B), которая объясняется регулярной (квазикристаллической) упаковкой фуллерена С60 в агрегатах и является морфологическим признаком, облегчающим идентификацию специфических включений.
7.2.4. Регистрируют картину электронной дифракции от найденного скопления агрегатов фуллерена С60. Оптимизируют параметры: ускоряющее напряжение, размер апертурной диафрагмы, глубину дифракционной камеры, - добиваясь, чтобы на электронограмме были четко различимы дифракционные кольца. Предпочтительно использовать диаметр диафрагмы, ограничивающий область детекции размером не более 0,5 - 1,0 мкм, что позволяет более селективно регистрировать сигнал от выделенных электронно-плотных частиц. Критерием успешного подбора глубины дифракционной камеры является наличие трех - пяти (или более) дифракционных колец, не сливающихся друг с другом и с центральным рефлексом. Пример электронограммы приведен на рисунке 3.
7.2.5. Регистрируют спектр ХПЭЭ от найденного скопления агрегатов фуллерена С60 в диапазоне 275 - 325 эВ. Затем в максимальной близости к измеренному скоплению находят поле зрения, не содержащее агрегатов фуллерена С60 и, не изменяя настроек прибора, получают спектр ХПЭЭ от этой области.
среза тканей растений или животных
7.3.1. При проведении обзорного анализа определяют границы среза ткани и в пределах этих границ визуально оценивают наличие включений, аналогичных эталонным. При регистрации обзорных изображений среза ткани применяют процедуру, описанную в п. 7.2.1, со следующими дополнениями:
а) просматривают не менее 50% площади среза; для ускорения процедуры с сохранением репрезентативности можно рекомендовать просмотр каждого второго или каждого третьего поля зрения вдоль траектории сканирования;
б) регистрируют и сохраняют изображения всех полей зрения, содержащих предполагаемые агрегаты фуллерена С60 (пример такого изображения приведен на рисунке 4);
Масштаб рассчитывают как отношение L/X, где L - линейный размер поля образца, отображаемый микроскопом на ПЗС-камере при выбранном увеличении в нанометрах, X - число пикселей в оцифрованном изображении размером X х X пикселей. Полученное значение отмечают в протоколе исследования.
7.3.2. На срезах образцов группы N 1, контрастированных тетраоксидом осмия, дополнительно определяют зоны преимущественного накопления в клетках.
7.3.3. Обнаружение включений, аналогичных включениям на образце сравнения, вне границ среза ткани указывает на возможную контаминацию среза наночастицами фуллерена С60 в процессе пробоподготовки или выпадение агрегатов фуллерена С60 из мест их скопления на ультратонком срезе ткани. Если плотность агрегатов фуллерена С60 вне среза ткани в 10 и более раз ниже, чем в пределах самой ткани, результаты анализа считаются значимыми. Если плотность распределения агрегатов фуллерена С60 внутри среза ткани и за ее пределами (в эпоксидной смоле) сравнимы, процедуру пробоподготовки повторяют, используя свежеприготовленные растворы и смеси.
7.3.4. Если при просмотре всех подготовленных и отобранных для анализа срезов одной пробы (пункты 5.3.8 и 6.3.9) на средних увеличениях не обнаруживают включений, морфологически сходных с включениями, обнаруженными на образце сравнения, или частиц, которые значительно отличаются от эндогенных структур образца, делают заключение, что агрегаты фуллерена С60 в пробе отсутствуют или присутствуют в концентрации ниже предела детекции данным методом. В этом случае анализ ограничивают обзорным сканированием и более детальное исследование, описанное в пунктах 7.4 - 7.6, не проводят.
7.3.5. В ходе обзорного анализа могут быть обнаружены включения, морфологически не сходные с изображениями агрегатов фуллерена С60, полученными на образце сравнения, и отличающиеся от биологических структур. В таком случае предполагают, что эти включения имеют экзогенное происхождение и могут представлять собой особые типы агрегатов фуллерена С60, которые формируются под воздействием уникального сочетания физиологических и метаболических факторов, свойственных живому организму, но не образуются при механическом диспергировании порошка фуллерена С60 в эпоксидной смоле. Нетипичные включения анализируют так же, как сходные с эталоном. Их идентичность фуллерену С60 подтверждают или исключают только на основании результатов электронной дифракции и СХПЭЭ (пункты 7.5, 7.6).
включений при больших увеличениях микроскопа
7.4.1. Для получения детализированных ПЭМ-изображений препарата выбирают области, содержащие один или несколько агрегатов типичной морфологии. Анализируют от 10 до 20 областей, в зависимости от степени вариабельности размера и формы агрегатов. Если в препарате присутствует несколько разновидностей частиц, сходных с агрегатами фуллерена С60, обнаруженных на образце сравнения, выборку формируют из частиц всех найденных типов. К нетипичным включениям (пункт 7.3.5) применяют аналогичную процедуру анализа.
7.4.2. Устанавливают увеличение (в диапазоне от 50000х до 200000х), выбранное при анализе образца сравнения (пункт 7.2). Если при заданных настройках ПЭМ удается различить характерную для фуллерена С60 параллельную исчерченность агрегатов (рисунок 2, В), при регистрации изображений обращают внимание, чтобы этот признак был хорошо выражен. Пример детализированного изображения агрегата фуллерена С60 в срезе биологической ткани, которое было получено при большом увеличении микроскопа, приведен на рисунке 5.
7.4.3. При получении цифрового изображения не допускают использования опции автоконтрастирования, так как нормирование на максимальную интенсивность ведет к потере информации об уровне электронной плотности и затрудняет идентификацию агрегатов фуллерена среди эндогенных наноразмерных включений.
7.4.4. Определяют масштаб цифрового изображения при выбранном увеличении микроскопа (пункт 7.3.1 "в"). Полученное значение отмечают в протоколе исследования.
электронно-плотных включений
7.5.1. Для получения электронограммы с помощью апертурной диафрагмы модуля для регистрации дифракции электронов выделяют область анализируемого скопления (рисунок 6). Следует учитывать, что надежность и достоверность идентификации методом электронной дифракции может снижаться, если размер агрегатов меньше 100 - 200 нм. Измерения проводят при ранее оптимизированных настройках прибора (пункт 7.2.4).
В качестве критерия, позволяющего идентифицировать агрегаты фуллерена С60 в процессе проведения измерений, рекомендуется оценивать соотношение диаметров характеристических колец и сравнивать их со значениями, установленными для образца сравнения (таблица 1).
Таблица 1
n 2
МАКСИМУМОВ 2-ГО И ПОСЛЕДУЮЩИХ (n-НЫХ) ПОРЯДКОВ ДЛЯ КАРТИНЫ
ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ АГРЕГАТА ФУЛЛЕРЕНА С60
???????????????????????????????????????????????????????????????????????????
? n ? 3 ? 4 ? 5 ? 6 ? 7 ? 8 ?
???????????????????????????????????????????????????????????????????????????
?d /d ?1,3 +/- ?2,2 +/- ?2,5 +/- ?3,3 +/- ?3,7 +/- ?4,0 +/- ?
? n 2 ?0,1 ?0,1 ?0,2 ?0,2 ?0,2 ?0,2 ?
???????????????????????????????????????????????????????????????????????????
7.5.2. Если в области, ограниченной апертурной диафрагмой, присутствует единичный агрегат небольших размеров, метод электронной дифракции дополняют методом темного поля. Другим основанием для применения метода темного поля является случай, когда в области анализа присутствуют два или несколько отдельно лежащих включения, и при этом часть рефлексов не совпадает с положением характеристических колец.
Для получения изображения методом темного поля в режиме электронной дифракции с помощью апертурной диафрагмы выделяют наиболее яркий рефлекс из тех, которые расположены на линиях характеристических колец. Изменяют режим измерения и получают изображение той же области в темном поле. Совпадение изображений агрегата в режимах темного поля и светлого поля подтверждает, что источником выделенного на электронограмме рефлекса является анализируемое электронно-плотное включение. В случае, если метод применяют для идентификации источников нехарактерных рефлексов, их выделяют с помощью апертурной диафрагмы, а кристаллы, которые выявляют на полученном темнопольном изображении, относят к неспецифическим включениям. Если взаимное расположение электронно-плотных включений позволяет вывести идентифицированные неспецифические включения из области, ограниченной диафрагмой, то рекомендуется сделать это и повторно получить электронограмму от агрегатов фуллерена С60.
Формваровая подложка и область биологического образца, свободная от фуллерена, содержат соединения углерода в высокой концентрации и поэтому имеют в спектре потерь энергии электронов в области 275 - 325 эВ два пика 287 - 288 и 298 эВ. Возможность идентификации фуллерена С60 методом СХПЭЭ в составе биоматериала обусловлена появлением в спектре дополнительного, третьего, пика с максимумом 303 эВ, который сопровождается смещением максимума в области 298 эВ в сторону увеличения потерь энергии на 3 - 5 эВ в зависимости от вклада сигнала фуллерена С60 (рисунок 7).
Для получения спектра ХПЭЭ в области характерного пика углерода оператор ограничивает область анализируемых наночастиц при помощи диафрагмы. Выбор области, значительную долю которой занимает поверхность анализируемых наночастиц, существенно повышает отношение характеристичного сигнала пика к фону.
Спектр ХПЭЭ регистрируют в диапазоне потерь энергии 275 - 325 эВ. Оптимальную интенсивность освещения образца электронным лучом подбирают в каждом конкретном измерении, добиваясь условий, при которых не происходит насыщения детектора, плавления и дрейфа подложки. Затем выбирают область в непосредственной близости от скопления, не содержащую экзогенных включений, и, не изменяя настроек прибора, измеряют СХПЭЭ этой области. Полученный спектр является внутренним контролем, который позволяет оценить вклад сигнала от биологического матрикса в спектр ХПЭЭ анализируемого агрегата.
В качестве оперативной оценки наличия дополнительного, характерного для фуллерена С60, пика в спектре углерода рекомендуется использовать эмпирический критерий R (формула 1):
306 288 298 288
где I , I , I - значения интенсивности сигнала при величине
288 298 306
потерь энергии 288, 298 и 306 эВ соответственно. Для биологической ткани,
не содержащей фуллерен С60, R < 0,85 (при уровне значимости 0,01). Для
агрегатов С60, занимающих более 5% площади, ограниченной апертурной
диафрагмой при измерении СХПЭЭ, значение R > 0,94 (при уровне значимости
0,01). Значение R возрастает с увеличением площади, занимаемой С60 в
выбранной для анализа зоне, и может превышать 1,0. Поэтому достоверность
оценки зависит от соотношения размера агрегата и площади образца,
выделяемой апертурной диафрагмой.
распределения агрегатов фуллерена С60 в образце
Оператор намечает линию, проходящую через весь срез, и вдоль этой линии измеряет 30 равномерно отстоящих друг от друга изображений в режиме ПЭМ при увеличении, выбранном в пункте 7.2.3. При этом визуально на люминесцентном экране обнаруживают включения, сходные по морфологическим признакам с агрегатами С60, и получают изображения полей, содержащих такие включения. В целях оптимизации процедуры изображения полей, не содержащих агрегаты С60, не регистрируют, но ведут их учет и отмечают эти данные в протоколе исследования.
Существует альтернативный способ оценки плотности и однородности распределения детектируемых наночастиц, применимый в случае, если программное обеспечение предусматривает возможность виртуального разбиения площади среза на квадратные зоны и автоматизированного перехода от зоны к зоне. Тогда в каждой зоне (всего не менее 30) анализируют 1 - 2 области (например, центральную или угловые); получают изображения областей, содержащих агрегаты С60, и учитывают число пустых областей.
Измерения этого типа рекомендуется проводить на срезах неконтрастированного материала. Распознавание агрегатов фуллерена на ПЭМ-изображениях выполняют на основании следующих морфологических особенностей:
- повышенная, на фоне биологического матрикса, электронная плотность: агрегаты С60 выделяются на фоне цитоплазмы клеток более темными сегментами;
- морфология агрегата, в частности, неоднородность структуры и полигональность;
- параллельная исчерченность.
Для повышения достоверности идентификации обнаруженные электронно-плотные включения дополнительно анализируют методами электронной дифракции (пункт 7.5) или СХПЭЭ (пункт 7.6).
и спектров в форму, удобную для анализа
Файлы с полученными изображениями и электронограммами конвертируют из внутреннего формата программного обеспечения к прибору в общедоступные форматы (*.jpeg или *.tiff, 8-битный), не допуская изменения исходного динамического диапазона в результате автоматического нормирования на максимальную интенсивность и изменения дискретности оцифровки за счет объединения нескольких соседних пикселей (элементов изображения) в один элемент. Сохраняемые изображения должны содержать метку масштаба. Спектры СХПЭЭ конвертируют в форматы *.xls или *.txt.
изображений, электронограмм и спектров
Для обработки и анализа изображений, полученных в режимах ПЭМ и электронной дифракции, рекомендуется использовать специализированное программное обеспечение электронного микроскопа и/или свободно распространяемый комплекс программ ImageJ (Национальный институт здоровья США, rsb.info.nih.gov/ij/). Для обработки и анализа спектров ХПЭЭ рекомендуется использовать специализированную программу, входящую в комплект электронного микроскопа, и/или программы, предназначенные для работы с электронными таблицами.
Распознавание агрегатов фуллерена на изображениях срезов основано на сравнении их с изображениями, полученными для образца сравнения. Анализируют следующие параметры:
- морфологические признаки;
- уровень электронной плотности (оценивают визуально по изображениям, полученным без применения функции автоконтрастирования).
Для оценки количественных морфологических параметров (размер и форм-фактор) определяют линейные размеры агрегата вдоль наиболее короткой и наиболее длинной осей. Форм-фактор f рассчитывают по формуле (2):
F = a / b, (2)
где:
a - размер наиболее длинной оси;
b - размер наиболее короткой оси.
Дают качественное описание морфологии агрегатов, субъективно классифицируя их по взаимоисключающим категориям, например "симметричный"/"асимметричный", "структурно однородный"/"структурно неоднородный", "компактный"/"рыхлый". При анализе изображений индивидуальных частиц в составе агрегата, полученных при больших увеличениях (100000х - 200000х), отмечают наличие характерной для фуллерена С60 параллельной исчерченности.
Критерием идентичности обнаруженных электронно-плотных включений и агрегатов фуллерена С60 является совпадение подавляющего большинства рефлексов на электронограмме образца и электронограмме, полученной от образца сравнения. Для сравнения электронограмм их совмещают средствами используемого графического редактора, сохраняя равенство масштаба.
Количественно электронограмму анализируемой частицы характеризуют,
рассчитывая соотношение диаметров дифракционного максимума n-го и 2-го
порядков (d / d ), и сравнивают полученные значения со значениями,
n 2
полученными для образца сравнения (табл. 1).
8.5.1. Анализ формы спектра ХПЭЭ
В спектре ХПЭЭ анализируют область 275 - 325 эВ. Наличие двух пиков 287 - 288 и 298 эВ (рисунок 7) интерпретируют как сигнал от биоматериала и формваровой подложки. Смещение максимума пика в область 303 эВ указывает на присутствие в образце агрегатов фуллерена С60. Смещение обнаруживают путем наложения спектров ХПЭЭ (диапазон 275 - 325 эВ), измеренных от соседних зон, содержащих и не содержащих электронно-плотные включения. Для надежного выявления сдвига пика углерода:
- минимумы по интенсивности в сравниваемых спектрах сдвигают к нулю; максимумы выравнивают по интенсивности путем умножения одного из спектров на расчетный коэффициент;
- отнормированные таким образом спектры накладывают друг на друга на экране компьютера и сравнивают форму спектров в области 295 - 310 эВ.
В качестве количественного критерия присутствия сигнала С60 в спектре используют параметр R (формула 1). Значение R > 0,94 расценивают как подтверждение наличия характеристического пика С60.
8.5.2. Метод сравнения интегральных интенсивностей
В качестве дополнительного метода идентификации агрегатов С60 в биологических пробах, основанного на повышении концентрации углерода в зоне скопления С60, используют сравнение интегральных интенсивностей сигнала в спектрах ХПЭЭ в диапазоне 282 - 313 эВ анализируемой зоны и пяти контрольных зон, расположенных в непосредственной близости от агрегата, но не содержащих электронно-плотных включений. Поскольку измеряемая интенсивность сигнала существенно зависит от толщины образца, сравнение полученных значений является информативным только в том случае, если градиент толщины среза и вариабельность плотности биологических структур в зоне измерений незначительны. Для того чтобы оценить применимость метода, определяют стандартное отклонение сигма средней интенсивности сигнала в контрольных зонах, в общем случае - по формуле 3:
_______________________
/ 2
i ср
где:
I - интегральная интенсивность сигнала в спектре ХПЭЭ в диапазоне
i
282 - 313 эВ для i-той контрольной зоны (i = {1, 2, ...n});
I - среднее значение интегральной интенсивности сигнала в спектрах
ср
ХПЭЭ в диапазоне 282 - 313 эВ для всех контрольных зон;
n - число контрольных зон.
Формула 3' представляет собой частный случай формулы 3 при n = 5.
_____________
/ 2
сигма = 1/2 \/SUM(I - I ) . (3')
i ср
По формуле 4 вычисляют величину сигма':
сигма' = 100% х сигма / I . (4)
ср
Метод сравнения интегральных интенсивностей применяют при условии, что
сигма' <= 5%. Вычисляют разность ДЕЛЬТА = I - I , где I - интегральная
а ср а
интенсивность сигнала в спектрах ХПЭЭ в диапазоне 282 - 313 эВ
от анализируемой зоны.
Если ДЕЛЬТА >= 2 сигма, возрастание сигнала углерода в зоне локализации электронно-плотного включения считают значимым и расценивают как доказательство его углеродного состава. Выявление повышенной концентрации углерода в анализируемой области в совокупности с получением характерной картины электронной дифракции (рисунок 3) является достаточным основанием для идентификации включения как агрегата С60.
Если -2 сигма < ДЕЛЬТА < 2 сигма, различия в интегральной интенсивности не расценивают как значимые. Решение об отнесении электронно-плотного включения к агрегатам С60 принимают на основании данных электронной дифракции и наличия характерного пика 303 эВ в СХПЭЭ углерода. Результаты, полученные методом сравнения интегральных интенсивностей, в этом случае не учитывают.
распределения агрегатов фуллерена в образце
В серии изображений систематически расположенных областей среза (не менее 30) подсчитывают число агрегатов фуллерена M. При этом в сумму включают только частицы, идентичность которых была подтверждена методами электронной дифракции или СХПЭЭ. Двумерную плотность распределения агрегатов D определяют по формуле (5).
где:
N - общее число изображений, как содержащих, так и не содержащих
агрегаты;
S - площадь образца на изображении, кв. мкм.
Равномерность распределения агрегатов фуллерена характеризуют величиной
2
дисперсии сигма среднего количества наночастиц на одном изображении
(формула 6).
2 2
i
где M - количество агрегатов С60 в i-том изображении. Суммирование по
i
i ведут по всем N полученным изображениям (как содержащим, так и не
содержащим фуллерены).
Для включений, идентифицированных как агрегаты фуллерена С60, составляют матрицу данных, столбцы которой содержат информацию о срезе, в котором была обнаружена каждая частица, ее морфометрических характеристиках (размер, форма, форм-фактор), результатах анализа методами электронной дифракции и спектроскопии ХПЭЭ. Пример фрагмента матрицы данных приведен в виде таблицы 2. В случае анализа срезов, контрастированных тетраоксидом осмия, также указывают компартмент, в котором выявлена частица.
Таблица 2
МАТРИЦА ДАННЫХ ПО РЕЗУЛЬТАТАМ АНАЛИЗА
ЛОКАЛИЗАЦИИ АГРЕГАТОВ ФУЛЛЕРЕНА С60 В ТКАНИ ПЕЧЕНИ МЫШИ
--------------------------------
<3> Клеточный компартмент, в котором обнаружена наночастица (Вне - внеклеточная зона, ПМ - плазматическая мембрана, Я - ядро, М - митохондрии, ЭПР - эндоплазматический ретикулум, ЛС - лизосома, ПЭ - поздняя эндосома и так далее).
<4> Наличие (+) или отсутствие (-) совпадения электронограммы с электронограммой от образца сравнения.
Если выборка значений количественных показателей из матрицы данных превышает n = 30, проводят их статистический анализ. Для выборки строят гистограмму распределения по значениям, проводят проверку на нормальность распределения, вычисляют среднее и среднее квадратичное отклонение. Для описательных признаков (например, "форма" в таблице 2) рассчитывают долю (в %) каждого варианта в общей структуре признака и представляют результат в виде круговой диаграммы.
Результаты анализа представляют в виде письменного заключения о выявлении агрегатов фуллерена С60 в тканях животного или растительного организма, оформленного в виде текстового документа с таблицами, рисунками и графиками.
Результат считают отрицательным, если агрегаты фуллерена не выявлены ни в одном из срезов исследуемого образца и достоверно идентифицированы в референсных срезах (образцы сравнения, заключенные в эпоксидную смолу). В этом случае представляют репрезентативные микрофотографии образца и эталона. Если агрегаты фуллерена достоверно обнаружены и идентифицированы в образцах группы N 1 и группы N 2, в отчете представляют следующие данные (отдельно по каждому типу образца, например, для каждого вида ткани, извлеченного при аутопсии животного):
- репрезентативные изображения наночастиц, измеренные методом просвечивающей электронной микроскопии, в неконтрастированных и в контрастированных срезах;
- гистограмму распределения агрегатов по размерам, средний размер, его среднее квадратичное отклонение, а также сопоставление с соответствующими данными для образца сравнения;
- гистограмму распределения агрегатов фуллерена по форм-фактору, среднее значение и среднее квадратичное отклонение форм-фактора, а также сопоставление этих данных с соответствующими данными для образца сравнения;
- репрезентативные картины дифракции электронов и результаты их сопоставления с электронограммой стандартного образца;
- диаграммы распределения агрегатов фуллерена по качественным категориям (форма, внутриклеточная локализация). В случае бинарного признака указывают только долю (%) встречаемости каждого из двух возможных вариантов;
- репрезентативные спектры ХПЭЭ, содержащие характерный дополнительный пик С60 в области края поглощения углерода;
- оценку плотности и равномерности распределения агрегатов фуллерена С60 в образце в виде значений двумерной плотности (формула 5, частиц/кв. мкм) и дисперсии среднего количества агрегатов на поле зрения (формула 6);
- любую дополнительную информацию, полученную при анализе образца, которая представляется важной для интерпретации приведенных данных (на усмотрение составителя отчета, в виде примечания).
Если агрегаты фуллерена выявлены в образцах одной из двух групп одной пробы и не детектированы в другой, предполагают контаминацию срезов или иные нарушения технологии пробоподготовки. В этом случае исследование повторяют, заменив все рабочие растворы и усилив контроль качества обработки инструментов.
ОБОЗНАЧЕНИЯ И СОКРАЩЕНИЯ
С60 - нативный фуллерен С60, его производные и гомологи;
ПЗС - прибор с зарядовой связью;
ПЭМ - просвечивающая электронная микроскопия;
ХПЭЭ - характеристические потери энергии электронов;
СХПЭЭ - спектр характеристических потерь энергии электронов.
Вернуться в "Каталог нормативных документов"
Источник информации: https://internet-law.ru/documents/prod/metodicheskie-rekomendacii/2/mr_1_61201.html
На правах рекламы:
|